Физики испытали метод определения характеристик оптических наносистем

20.06.2018 15:11 0

Физики испытали метод определения характеристик оптических наносистем

Новая разработанная специалистами модель позволяет описывать возможности взаимодействия света с произвольно выбранной поверхностью. Данная технология облегчает процессы проектирования устройств, используя матаматериалы и графен.
Создана модель физиками России и Франции, благодаря ей можно формировать важнейшую характеристику для оптической системы, называемую - матрицей рассеяния. Положительный результат получен благодаря возможности созданной модели описывать процессы взаимодействия света и любой поверхности. Данная матрица рассеяния незаменима в проектировании любых оптических приборов, так как за основу взяты данные о падающем свете с возможность прогноза его дальнейшего попадания в заранее определенное место.

Как считают авторы модели, их подход расчета матрицы можно использовать как при прямоугольной, так и криволинейной системам координат. Использование данного метода позволяет рассчитывать электромагнитные поля численными методами.
Протестировали модель ученые на гофрированном графене, используя поверхность кремния. Так же, провели эксперименты с графеном и кремнием, включая добавления из тонкого слоя оксида кремния. Физики уверены, что будущее метода будет связано с измерениями предсказаний оптических характеристик существующих материалов, а также ускорением процессов разработки с их применением.

Источник

Следующая новость
Предыдущая новость

Назван самый вероятный конец человеческой цивилизации

Последние новости